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光谱仪

平面材料漫反射率与透射率测量系统

平面材料漫反射率与透射率测量系统
产品简介
简介: 平面材料漫反射率与透射率测量系统Omni-DR600结构与Omni-DR300 相同,但系统测试光为由下至上8度角聚焦光路,样品盛放装置为160x160mm 平台,方便放置各类平面待测物,如各类功能
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产品介绍
简介:
平面材料漫反射率与透射率测量系统Omni-DR600结构与Omni-DR300 相同,但系统测试光为由下至上8度角聚焦光路,样品盛放装置为160x160mm 平台,方便放置各类平面待测物,如各类功能性布料。同时,系统整合透过率测量探测器,可测量厚度为5mm以下的各类透光材料,可将各类透光器件的漫反射率与透过率测量整合成一体。
性能特点:
●  光谱测量范围:350-2500nm
●  光谱分辨率:2nm以下
●  光谱扫描步距:0.2-100nm可连续设置
●  波长准确度:优于±0.2nm(紫外-可见区),优于±0.5nm(近红外区)
●  光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内(近红外区)
●  光度测量重复性:1% (450nm-1800nm)
●  测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm
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